二、高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：

1、型號：PCT-25內(nèi)箱Φ25×40㎝

2、型號：PCT-30內(nèi)箱Φ30×50㎝

3、型號：PCT-40內(nèi)箱Φ40×60㎝

4、型號：PCT-50內(nèi)箱Φ50×70㎝

5、溫度范圍：100℃～132℃

6、濕度范圍：RH飽和蒸汽

7、壓力范圍：大氣壓+0～4㎏/cm2

三、高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)特性：

1、試驗(yàn)過程自動運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束、使用簡便。

2、雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動切斷加熱電源。

3、LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。

4、LED數(shù)字型定時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)*。

5、精準(zhǔn)的壓力、溫度對照顯示。

6、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動排出未飽和蒸汽以達(dá)到蒸汽質(zhì)量。

7、試驗(yàn)過程中水位不足時(shí)能自動補(bǔ)充水位之功能，試驗(yàn)不中斷，確保使用安全。

8、鍋內(nèi)安全裝置，鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無法啟動。

9、安全閥，當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動排氣泄壓。

10、門蓋保護(hù)，ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。

11、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)/飽和型高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)/工業(yè)壓力鍋  

高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)用途：廣泛應(yīng)用于線路板，多層線路板，，IC,LED,,磁鐵之產(chǎn)品密封性能的檢測，測試器制品的耐壓性。 

高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)技術(shù)要求：

◎型號： PCT-35

◎內(nèi)箱尺寸（cm）：Φ300×D450

◎溫度范圍：110℃——132℃ 

◎濕度范圍：RH飽和蒸氣 

◎壓力范圍：環(huán)境大氣壓+0.5— 2kg/cm2  

◎循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán) 

◎控制器：微電腦飽和蒸氣溫度+時(shí)間+壓力顯示獨(dú)立控制器 

◎解析度：溫度：0.1壓力：指針式0.1 

◎控制穩(wěn)定度：溫度：±0.5℃，濕度： 

◎內(nèi)箱材質(zhì)：SUS316#不銹鋼 

◎外箱材質(zhì)：鋼板考柒 

◎安全保護(hù)：試驗(yàn)時(shí)全程檢測超溫超壓保護(hù)，階段儀表內(nèi)部超高溫保護(hù)，二階段儀表內(nèi)部加濕器缺水保護(hù)，高壓力保護(hù)，水箱缺水報(bào)警斷電，二階段加濕管極限溫度保護(hù)，二階段超高壓保護(hù)，三階段緊急泄壓保護(hù)，手動泄壓保護(hù)，自動泄壓等.  

特性：

◎實(shí)驗(yàn)過程自動運(yùn)轉(zhuǎn)之完成結(jié)束，使用簡單。  

◎雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)缸內(nèi)溫度過高時(shí)機(jī)器鳴叫報(bào)警并自動切斷加熱電源。  

◎LED數(shù)字型溫度控制器可做精確試驗(yàn)溫度之設(shè)定，控制及顯示。PID控制，誤差士0.1℃  

◎LED數(shù)字型定時(shí)器，當(dāng)缸內(nèi)溫度到達(dá)后才開始計(jì)時(shí)以確保實(shí)驗(yàn)安全。  

◎精確地溫度壓力對照顯示。  

◎運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動排除未飽和蒸汽已達(dá)到蒸汽質(zhì)量。  

◎實(shí)驗(yàn)過程中水位不足時(shí)自動補(bǔ)充水位之功能，試驗(yàn)不中終端，確保使用安全。  

◎缸內(nèi)安全裝置，鋼門若未關(guān)緊則及機(jī)器無法啟動。  

◎安全閥：當(dāng)缸內(nèi)溫度超過大值時(shí)自動排氣泄壓。  

◎門口保護(hù)：ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品詳情：  

◎加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等），加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。  

◎用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。  

◎隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC（電工委員會）所標(biāo)準(zhǔn)化。注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST（高度加速應(yīng)力試驗(yàn)）。

  

以上是恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室的相關(guān)信息，如需了解更多恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室維護(hù)、保養(yǎng)等信息，請艾思荔。

：   李

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